2013-5-17-->二次回路查找(zhǎo)故障的(de)一般步驟
(1)根據(jù)故障現象分析故障的一般原因(yīn)。
(2)保持原狀,進行(xíng)外部檢查和觀察。
(3)檢查出故障可能(néng)性大的P550106、容易出問題的(de)、常出問題的薄弱點。
(4)用(yòng)“縮小範圍”的(de)方法逐步查找(zhǎo)。
(5)使(shǐ)用正確的方法,查明故障點並排除故障。
二次(cì)回路開路故障的檢查方(fāng)法
(1)導通法。此(cǐ)方(fāng)法是用萬用(yòng)表的(de)歐姆擋測量電阻。不能(néng)使用絕緣電阻表,因為絕緣電阻表對回(huí)路中(zhōng)各元件(jiàn)接觸不良或電阻元件變質的故障測不出來。
用(yòng)導通法檢查時,必(bì)須先(xiān)斷開被測回路的(de)電源,否則會燒壞表計。
用導通法查找回(huí)路不(bù)通的原理,是通過測某兩點之間電阻(zǔ)值的(de)變化來判(pàn)別故障。對於接觸良好的接觸點,電阻(zǔ)應為零,嚴重接觸不良時有一定的阻(zǔ)值(zhí),未接通的觸點其兩端電阻(zǔ)非常大(dà);對於電流線圈,其電阻(zǔ)應很小;對於電壓線圈電阻(zǔ)元件(jiàn)P552562,其限值應與標稱值相近(jìn)。
用(yòng)導通法查回(huí)路不通時,必(bì)須斷開(kāi)回路的電源(yuán),某些情況下繼電器失(shī)磁變位(返回(huí))後,不易(yì)查出其接觸不良(liáng)問題。一(yī)般不帶電壓、電流的(de)回路不(bù)通可(kě)用(yòng)此(cǐ)方(fāng)法測量檢查。
(2)測電壓降法。測電壓降法是用(yòng)萬用(yòng)表(biǎo)的直流電壓擋,測回(huí)路中(zhōng)各(gè)元件(jiàn)上的(de)電壓降。查回(huí)路不通故障無需斷開(kāi)電源,因(yīn)此無導通法的(de)缺點。測量時所(suǒ)選用(yòng)表(biǎo)計量程應大於電源電壓。
該方法的原理是:在(zài)回(huí)路接通的情況下,接觸良(liáng)好的接點兩端電壓應等於零,若不等於零或為全電壓,則說明回路其他(tā)元件良好(hǎo)而(ér)該觸點接觸不良或(huò)未接觸。電流線圈兩端電壓應近(jìn)於零,過大則有問題。電阻(zǔ)元件(jiàn)及電壓線圈兩端則應有(yǒu)一(yī)定的電壓。回(huí)路中僅有一個電壓線圈且無串聯電阻(zǔ)時,線圈兩端電壓不應比電源電壓低很多。線圈兩端電壓正常而其(qí)觸點不(bù)動,說明(míng)線圈斷線。
(3)對地電位(wèi)法。用此法查二次回(huí)路不(bù)通故障,也無需斷開電源。測前應首先分(fēn)析回路各點的對地電位,然後再進行測量,將分(fēn)析結果和所(suǒ)測值及極性相比較。
將電位(wèi)分析和(hé)測量結果(guǒ)比較,所測值和極性與分析(xī)相同(tóng),誤差不(bù)大,表明(míng)各元件良好。若相反或相差很大(dà),表(biǎo)明該部分有問題。
測量各點對地(dì)電位,應使用萬用表(biǎo)直(zhí)流電壓擋P145702,將一(yī)支(zhī)表筆接地,另一(yī)表筆接被測點。若(ruò)被測點應帶正電,則應將正(zhèng)表筆接被測點,負表(biǎo)筆接地(dì);反(fǎn)之,將負表(biǎo)筆接被測點而(ér)正表筆接地。若表計指示為直流電源(yuán)電壓的1/2左右(yòu),則表(biǎo)明(míng)該點到電源(yuán)正(zhèng)極或(huò)電源(yuán)負極之間是通的。
測對地電位(wèi)時讀數為電源電壓的1/2左右,是因為變電站直(zhí)流係統中(zhōng)的(de)絕緣監察裝置的(de)影響。
用測對地電位(wèi)法檢查回(huí)路不(bù)通的(de)故障,方便、準確,且(qiě)不(bù)受(shòu)各(gè)元件和(hé)端子(zǐ)安裝地點的影響,回路中有(yǒu)兩個不(bù)通點也能準確查出(chū)。
為了更有效地(dì)檢查回(huí)路不通點或接觸不良問題,可(kě)以用(yòng)測對地電位(wèi)法和(hé)測電壓降法配合使用FX-4AP,這樣更便於查找。
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